1. 關於《微機原理》的一些問題
9、每段的起始和結束地址為：
（1）10000H-1FFFFH
（2）12340H-2233FH
（3）23000H-32FFFH
（4）E0000H-EFFFFH
（5）AB000H-BAFFFH
12、若當前SS＝3500H，SP=0800H,堆棧段在存儲器中的物理地址為35800H，若此時入棧10個位元組，SP內容是07F6H，若再出棧6個位元組，SP為07FCH
3、
(1)MOV
AX,[100H]源操作數欄位的定址方式是直接定址，物理地址值是
10100H
(2)MOV
AX,VAL源操作數欄位的定址方式是直接定址，物理地址值是
10030H
(3)MOV
AX,[BX]源操作數欄位的定址方式是寄存器間接定址，物理地址值是
10100H
(4)MOV
AX,ES:[BX]源操作數欄位的定址方式是寄存器間接定址，物理地址值是
20100H
(5)MOV
AX,[SI]源操作數欄位的定址方式是寄存間接定址，物理地址值是
100A0H
(6)MOV
AX,[BX+10H]源操作數欄位的定址方式是寄存器相對定址，物理地址值是
10110H
(7)MOV
AX,[BP]源操作數欄位的定址方式是寄存器間接定址，物理地址值是
35200H
(8)MOV
AX,VAL[BP][SI]源操作數欄位的定址方式是基址變址定址，物理地址值是
10100H
(9)MOV
AX,VAL[BX][DI]源操作數欄位的定址方式是基址變址定址，物理地址值是
10124H
(10)MOV
AX,[BP][DI]源操作數欄位的定址方式是基址變址定址，物理地址值是
35224H
6、
(1)MOV
DL,AX類型不匹配，位元組與字不能傳送
(2)MOV
8650H,AX
目的操作數不能為立即數
(3)MOV
DS,0200H
立即數不能送段寄存器
(4)MOV
[BX],[1200H]
兩內存單元不能直接操作
(5)MOV
IP,0FFH操作數不能為IP
(6)MOV
[BX+SI+3],IP
操作數不能為IP
(7)MOV
AX,[BX][BP]兩個基寄存器不能同時作為地址
(8)MOV
AL,ES:[BP]
可以是正確的
(9)MOV
DL,[SI][DI]兩變址寄存器不能同時作為地址
(10)MOV
AX,OFFSET
0A20H錯誤在OFFSET不用作為數值地址操作符
(11)MOV
AL,OFFSET
TABLE類型不匹配，地址為字，不能傳送給位元組
(12)XCHA
AL,50H
立即數不用作為XCHG指令的操作數
(13)IN
BL,05H
輸入指令為累加器專用指令，不用BL，只能用AL
(14)OUT
AL,0FFEH
埠地址超過8位應該用DX間接定址
7、
LEA
BX,TABLE
MOV
AL,5
XLAT
MOV
DH,AL
MOV
AL,7
XLAT
MOV
DL,AL
MOV
BX,DX
8、
PUSH
AX
SP＝00FEH
PUSH
BX
SP＝00FCH
POP
BX
SP＝00FEH
POP
AX
SP＝0100H
1、
A1
DW
23H,
5876H
變數佔4個位元組
A2
DB
3
DUP(?),
0AH,
0DH,
『$』變數佔6個位元組
A3
DD
5
DUP(1234H,
567890H)
變數佔40個位元組
A4
DB
4
DUP(3
DUP(1,
2,
『ABC』))
變數佔60個位元組
2、
MOV
AX,0066H
MOV
AL,0FFH
MOV
AX,0FFH
AND
AL,2
OR
AX,02FFH
4、
PLENTH的值為22,表示PLENTH與PAR之間的位元組數
7、用1024×1位的RAM晶元組成16K×8位的存儲器，需要128個晶元，在地址線中有10位參與片內定址,6位組合成片選擇信號（設地址匯流排為16位）
8、現有一存儲體晶元容量為512×4位，若要用它組成4KB的存儲器，需要16個這樣的晶元，每塊晶元需要9條定址線，整個存儲系統最少需要12條定址線。
2. 電路板如何目測
目測是不可靠的.
通常進行以下三個層次的檢測:
1 )裸板檢測;
2) 在線檢測;
3 )功能檢測。
採用通用類型的測試儀，可以對一類風格和類型的電路板進行檢測，也可以用於特殊應用的檢測。
如何維修電路板
在線測量法
第一步： 給電路板通電， 在這步中需要注意的是，有些電路板電源並不是單一的，可能需要5V,還會需要正負12V,24V 等等，不要把該加的電源漏加了。電路板通電後，通過手摸電路板上的元器件，看是否有發燙發熱的元件， 重點檢查74 系列晶元，如果元件有燙手的情況， 則說明此元件有可能已經損壞。更換元件後，檢查電路板故障是否已解決。
第二步：用示波器測量電路板上的門電路，觀察其是否符合邏輯關系。若輸出不符合邏輯， 需要分兩種情況分別對待，一種是輸出應該是低電平的，實際測量為高電平，可以直接判斷晶元損壞;另一種是輸出應該是高電平的，實際測量為低的，並不能就此判定晶元已經損壞， 還需要將晶元與後面的電路斷開，再次測量，觀察邏輯是否合理，判定晶元的好壞。
第三步：用示波器測量數字電路里的晶振，看其是否有輸出。若無輸出， 則需要將與晶振相連的晶元盡可能都摘掉後再進行測量。若還無輸出， 則初步判定晶振已經損壞;若有輸出，需要將摘掉的晶元一片一片裝回去，裝一片測一片，找出故障所在。
第四步： 帶匯流排結構的數字電路， 一般包括數字、地址、控制匯流排三路。用示波器測量三路匯流排，對比原理圖，觀察信號是否正常，找出問題。