光耦试验电路

① 怎样设计一个电路测试光耦的好坏

用DC5V电源，经过一个电阻衰减，一个按键，接入光耦输入其中一端，另一端接地，光耦输出端一端经上拉电阻接+5V,另一端接LED显示，LED-接地即可。
检测：
1、比较法拆下怀疑有问题的光耦，用万用表测量其内部二极管、三极管的正反向电阻值，用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较，若阻值相差较大，则说明光耦已损坏。
2、数字万用表检测法下面以EL817光耦检测为例来说明数字万用表检测的方法。检测时将光耦内接二极管的＋端{1}脚和－端{2}脚分别插入数字万用表的Hfe 的c、e插孔内，此时数字万用表应置于NPN挡；然后将光耦内接光电三极管C极{5}脚接指针式万用表的黑表笔，e极{4}脚接红表笔，并将指针式万用表拨在RX1k挡。这样就能通过指针式万用表指针的偏转角度——实际上是光电流的变化，来判断光耦的情况。指针向右偏转角度越大，说明光耦的光电转换效率越高，即传输比越高，反之越低；若表针不动，则说明光耦已损坏。
3、光电效应判断法仍以EL817光耦合器的检测为例，检测电路如图2所示。将万用表置于RX1k电阻挡，两表笔分别接在光耦的输出端{4}、{5}脚；然后用一节1．5V的电池与一只50～100Ω的电阻串接后，电池的正极端接EL817的{1}脚，负极端碰接{2}脚，或者正极端碰接{1}脚，负极端接{2}脚，这时观察接在输出端万用表的指针偏转情况。如果指针摆动，说明光耦是好的，如果不摆动，则说明光耦已损坏。万用表指针摆动偏转角度越大，表明光电转换灵敏度越高。

② 低电平导通的光耦电路,测试该电路的特性是咋样的

光耦的输入端是一个发光二极管。电路连接方式不同，导通的电平也不同。
正端接电源，负端输入，就是低电平导通；
负端接地，正端输入，就是高电平导通。
光耦一般采用开关量驱动，输入特性主要体现为：
1、只能单向导通。
2、最好驱动电流在额定工作电流附近。

③ 光耦驱动电路原理

在一些实验室或高要求场合，为了实验人员的安全，一般将实验的输入电源采用1：1的工频变压器与市电进行隔离，这样一来，实验室实验人员无论碰到线路的哪一根线都不会有触电的危险，因为隔离电源与大地是没有连接的。在工业控制设备中，有时候要求两个系统之间的电源地线隔离，如隔离地线噪声、隔离高共模电压等，采用带变压器的直流变换器，将两个电源之间隔开，使他们相互独立。
在一般的隔离电源中，光耦隔离反馈是一种简单、低成本的方式。但对于光耦反馈的各种连接方式及其区别，目前尚未见到比较深入的研究。而且在很多场合下，由于对光耦的工作原理理解不够深入，光耦接法混乱，往往导致电路不能正常工作。本研究将详细分析光耦工作原理，并针对光耦反馈的几种典型接法加以对比研究。
1 常见的几种连接方式及其工作原理
光电耦合器具有体积小、使用寿命长、工作温度范围宽、抗干扰性能强。无触点且输入与输出在电气上完全隔离等特点，因而在各种电子设备上得到广泛的应用。光电耦合器可用于隔离电路、负载接口及各种家用电器等电路中。
常用于反馈的光耦型号有TLP521、PC817等。这里以TLP521为例，介绍这类光耦的特性。
TLP521的原边相当于一个发光二极管，原边电流If越大，光强越强，副边三极管的电流Ic越大。副边三极管电流Ic与原边二极管电流If的比值称为光耦的电流放大系数，该系数随温度变化而变化，且受温度影响较大。
通常选择TL431结合TLP521进行反馈。这时，TL431的工作原理相当于一个内部基准为2.5 V的电压误差放大器，所以在其1脚与3脚之间，要接补偿网络。

④ protel 光耦电路

不合理，当你的IN是高电平的时候，Q1导通，12V电压直接对低短接了，电源模块很容易就烧坏了。

常见的光耦电路：

⑤ 关于光耦电路的原理

光耦电路即光电耦合器一般由三部分组成，光的发射、光的接收及信号放大。输入的电信号驱动发光二极管（LED），使之发出一定波长的光，被光探测器接收而产生光电流，再经过进一步放大后输出。这就完成了电—光—电的转换，从而起到输入、输出、隔离的作用。

在光耦电路设计中，有两个参数需要格外注意，一个是反向电压Vr，是指原边发光二极管所能承受的最大反向电压，超过此反向电压，可能会损坏LED。而一般光耦中，这个参数只有5V左右，在存在反压或振荡的条件下使用时，要特别注意不要超过反向电压。

另外一个参数是光耦的电流传输比是指在直流工作条件下，光耦的输出电流与输入电流之间的比值。光耦的CTR类似于三极管的电流放大倍数，是光耦的一个极为重要的参数，它取决于光耦的输入电流和输出电流值及电耦的电源电压值，

这几个参数共同决定了光耦工作在放大状态还是开关状态，其计算方法与三极管工作状态计算方法类似。若输入电流、输出电流、电流传输比设计搭配不合理，可能导致电路不能工作在预想的工作状态。

光耦电路中C-E饱和电压Vce(sat)，即光敏三极管的集电极-发射极饱和压降。正向工作电压Vf(ForwardVoltage)，Vf是指在给定的工作电流下，LED本身的压降。常见的小功率LED通常以If=10mA来测试正向工作电压，当然不同的LED，测试条件和测试结果也会不一样。

(5)光耦试验电路扩展阅读；

线形光耦介绍，光隔离是一种很常用的信号隔离形式。常用光耦器件及其外围电路组成。由于光耦电路简单，在数字隔离电路或数据传输电路中常常用到，如UART协议的20mA电流环。对于模拟信号，光耦因为输入输出的线形较差，并且随温度变化较大，限制了其在模拟信号隔离的应用。

对于高频交流模拟信号，变压器隔离是最常见的选择，但对于支流信号却不适用。一些厂家提供隔离放大器作为模拟信号隔离的解决方案，如ADI的AD202，能够提供从直流到几K的频率内提供0.025%的线性度，但这种隔离器件内部先进行电压-频率转换。

对产生的交流信号进行变压器隔离，然后进行频率-电压转换得到隔离效果。集成的隔离放大器内部电路复杂，体积大，成本高，不适合大规模应用。

⑥ 哥哥们 怎么搭建个测试电路来测试光耦MOC3082 多谢了！

moc3082 是双向可控硅输出电路的六脚光耦，其中3脚和5脚是空的，1脚是信号正极，2脚是信号负极，输出耐压800V，电流1A ，你假如要简单测试的话，可以用两只万用表（数字表），全部拨到二极管测试挡，其中一只的红表棒搭1脚，黑表棒搭2脚， 另一只万用表红表棒搭6脚，黑表棒搭4脚， 测试时分别断开和接触一脚的表棒，观察第二只表的读数，当一脚断开时，读数应该越大越好，而当一脚接上时，读数应该是越小越好，此方法也适用于测试其他的光耦，难度是在于一双手要拿好两双表棒，不过你会习惯的，相信你行！

⑦ 使用光耦设计一种配合单片机的检测电路,

Q? MOS 管部分模拟有漏电情况存在400uA左右(该mos管模拟该电路检测其他电路系统功能)，想在P2.0网络检测到高电平或者低电平两种情况。单片机为3.3V
mos管是模拟被检测电路通或断的两种情况，在断开的情况下存在400uA左右的漏电

估计是你的MOS管有问题，不然漏电流不该这么大。可以通过这样几个方案解决：
1、更换MOS管。
2、改变电路结构，MOS管S接地，漏极接光耦发光二极管。
3、改换三极管，MOS管换成普通三极管。

⑧ 光耦在电路中的用途,以及它的工作原理,

光耦的作用主要是隔离。

可以测量好坏，但是需要在知道型号及参数的前提下内，搭建简单的电路容来实现。里面的三极管可以测量，但是前提是，发光二极管可以正常工作。

它的结构很简单，内部由一个发光二极管和一个光敏三极管构成。当发光二极管开始工作后，根据电流的变化，光强会随之变化，这样，光敏三极管的集射极间的电流也会发生变化，变化的关系和晶体三极管一样，这里指的光强变化可以认为是晶体三极管的基极电流的变化。

对这种不容易直接判断的器件来说，替换法是最简单也是最行之有效的办法。

在电视机中，光耦的作用主要是在开关电源部分的反馈电路上，将输出电压经过采样后，反馈给谐振模块，从而使输出电压稳定在一定范围内。

所以，光耦坏了，在电视机上的故障就是：在通电后，保险管烧毁，电视机无法工作，多数情况下开关电源部分的大功率开关管损坏。

如有不明白的地方，可以补充说明~

⑨ 怎么检测光电耦合器的好坏

光耦有四脚的，六脚的，八脚的。在发现产品故障的时候，我们如何判别光耦的好坏呢？下面我对此作了一下实验。其中电路如下：

6脚光耦和和68脚光耦类似，只是去掉和8脚光耦光耦1脚和8脚。使用6脚光耦代替8脚光耦时把6脚光耦1脚当2脚用，其他脚类推加一。

⑩ 光耦在电路使用中的工作原理

光耦，即光电耦合器，
结构：一般4脚的光耦，输入端跨接的是一只led，输出端跨接的是一只光敏三级管，led和光敏三级管是被密封在一个封装中的。
原理：当在输入端加一正向导通电压，led发光，光敏三级管受光照，发射结导通，三级管相当于开关。此“开关”的通断由输入端决定。
优点：隔断输入端（控制电路）与输出端（被控制电路），避免被控制电路在工作时电压的抖动对控制端造成影响。